訊技光電公司首頁 最新公告:2021年訊技課程安排發布啦! 黌論教育網校|English|全站搜索
欄目列表
NEWSLETTER
最新發布

X射線成像系統:Kirkpatrick-

包含光柵的高NA顯微系統

用于高NA顯微鏡成像的工程化P

同步時空聚焦(SSTF)

浸入式顯微鏡和STED顯微鏡的

偏振相關光柵

貝塞爾光束的產生

使用部分相干光的楊氏干涉實

特殊光柵的光譜靈敏度和角靈

演示面陣激光雷達

分辨率的分析
時間:2021-01-18 21:59來源:訊技光電作者: 技術部點擊:打印
如何更好地分辨物體是光學科學界一直存在的問題,因此如何判斷光學系統的分辨率是一個重要的問題。根據Ernst Karl Abbe(1840-1905)和John William Strutt,Third Baron Rayleigh(1842-1919)等人的工作,我們在VirtualLab Fusion中演示了阿貝分辨率極限和瑞利判據,并說明了如何使用這兩種分析來評估典型成像系統的性能。
 
用瑞利準則研究顯微鏡物鏡的分辨率
 

 
根據瑞利判據,我們研究了三種不同數值孔徑的顯微物鏡的分辨率。
 
阿貝理論成像的論證

 
我們搭建了成像系統,以金屬光柵為實驗對象,利用VirtualLab Fusion演示了阿貝的成像理論。
 
For more information send a message to: support@infotek.com.cn / support@infocrops.com
Internet: http://www.baishan123.com / http://www.honglun-seminary.com
關于我們
公司介紹
專家團隊
人才招聘
訊技風采
員工專區
服務項目
產品銷售
課程中心
專業書籍
項目開發
技術咨詢
聯系方式
地址:上海市嘉定區南翔銀翔路819號中暨大廈18樓1805室    郵編:201802
電話:86-21-64860708/64860576/64860572  傳真:86-21-64860709
課程:course@infotek.com.cn
業務:sales@infotek.com.cn
技術:support@infotek.com.cn
官方微信
掃一掃,關注訊技光電的微信訂閱號!
Copyright © 2014-2021 訊技光電科技(上海)有限公司, All Rights Reserved. 滬ICP備10008742號-1
5544444